受託分析 – 昭和KDE株式会社    

受託分析

各種分析の受託

当社の無機粉体製造、耐火物等のセラミック製造において培った技術・ノウハウを活かし、鉱物・セラミック・無機粉体などの各種分析を行います。
新たな原料の物性や成分を確認したい。新たな品質検査項目を検討している。品質異常の原因を見つけたい。など、スポットでのご依頼でも歓迎です。

分析担当窓口

TEL. 0288-25-7460

主な分析装置と項目

形態観察(SEM-EDX)

HITACHI Miniscope TM3000 / BRUKER Quantax 70

鉱物組成解析(XRD)

BRUKER D2 PHASER

化学成分分析(XRF)

Rigaku ZSX Primus Ⅲ +

化学成分分析(ICP)

島津 ICPS-8100

保有装置 主要な分析・測定
X線回析装置(XRD)

鉱物の定性・定量分析

蛍光X線分析装置(XRF)

化学組成(定性・定量分析)

プラズマ発光分析装置(ICP)
電子顕微鏡(SEM-EDX)

形態観察・化学組成(元素マッピング)

熱分析(TG-DTA)

熱重量(変化)

マルチピクノメーター

真比重

電気炉

水分・強熱減量(Ig.Loss)

水分計
レーザー回析式粒度分布測定装置

粒度(粉体・破砕品)

振動篩
pHメーター

pH

プレーン測定器

比表面積

試料調整

適切な分析結果を得るために、試料を加工・処理を行います。

切断:スラブソー

研磨:平面研磨機

破砕:サンプルジョークラッシャ―

粉砕:振動ミル、リングミル

縮分:サンプル縮分器

篩掛け:篩(ふるい振とう器)

ビードサンプラー(XRF)

薬品処理(酸・アルカリ等)

溶液作成

鉱物組成分析(粉末X線回析法)

解析ソフト(リートベルト)を搭載。要望により定量可能。

分析例:陶石

形態観察と化学成分(SEM-EDX)

SEMで観察した画像をEDX(マッピング)で解析

分析例:耐火レンガの断面

粉体の粒度分布測定

レーザー粒度分布測定装置をも言いた粉体の粒度分布測定

測定装置の紹介